n-Si薄膜/p-Si構造の形成と温度勾配付与時の電位分布観察

n-Si薄膜/p-Si構造の形成と温度勾配付与時の電位分布観察
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n-Si薄膜/p-Si结构的形成以及施加温度梯度时电位分布的观察

DOI:
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发表时间:
2021
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
岡坂達也 木瀬浩輝 松川祐子 有田誠 宗藤伸治
岡坂達也 木瀬浩輝 松川祐子 有田誠 宗藤伸治
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
小松龍司;成田翔矢;宍木直茂;中村光輝;吉澤正人;脇舎和平;中西良樹;岡坂達也 木瀬浩輝 松川祐子 有田誠 宗藤伸治

文献摘要

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