微細サンプルにおけるBi-Sbトポロジカル絶縁体中転位の電気抵抗測定
微細サンプルにおけるBi-Sbトポロジカル絶縁体中転位の電気抵抗測定
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微观样品中 Bi-Sb 拓扑绝缘体位错的电阻测量
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
枝川圭一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
濱崎拡;徳本有紀;枝川圭一
