Cryo-FIB specimen preparation for use in a cartridge-type cryo-TEM.
Cryo-FIB specimen preparation for use in a cartridge-type cryo-TEM.
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DOI：
10.1016/j.jsb.2017.05.011
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发表时间：
2017-08
影响因子：
3
通讯作者：
Sui H
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
He J;Hsieh C;Wu Y;Schmelzer T;Wang P;Lin Y;Marko M;Sui H
冷冻电子断层扫描（cryo - ET）是一种成熟的技术，用于研究细胞内近乎天然状态下的亚细胞大分子复合物和细胞器的三维结构细节。冷冻电子断层扫描应用的一个主要限制是可适用的样本厚度，它小于几乎所有真核细胞的直径。研究表明，聚焦离子束（FIB）铣削可用于制备冷冻生物材料的薄且无变形的薄片，以用于高分辨率冷冻电子断层扫描。市面上有用于冷冻聚焦离子束样本制备的低温系统，然而，对于特定的冷冻聚焦离子束和冷冻透射电子显微镜（cryo - TEM）要获得可靠的结果，重新设计和额外的固定装置往往是必不可少的。在此，我们描述了我们优化的冷冻聚焦离子束铣削方案以及经过改进的仪器设备，用于制备薄片以及随后将薄片无损伤地冷冻转移到我们的盒式冷冻透射电子显微镜中。
Cryo-electron tomography (cryo-ET) is a well-established technique for studying 3D structural details of subcellular macromolecular complexes and organelles in their nearly native context in the cell. A primary limitation of the application of cryo-ET is the accessible specimen thickness, which is less than the diameters of almost all eukaryotic cells. It has been shown that focused ion beam (FIB) milling can be used to prepare thin, distortion-free lamellae of frozen biological material for high-resolution cryo-ET. Commercial cryosystems are available for cryo-FIB specimen preparation, however re-engineering and additional fixtures are often essential for reliable results with a particular cryo-FIB and cryo-transmission electron microscope (cryo-TEM). Here, we describe our optimized protocol and modified instrumentation for cryo-FIB milling to produce thin lamellae and subsequent damage-free cryotransfer of the lamellae into our cartridge-type cryo-TEM.
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影响因子：
3
作者：
Hsieh, Chyongere;Schmelzer, Thomas;Kishchenko, Gregory;Wagenknecht, Terence;Marko, Michael
通讯作者：
Marko, Michael
影响因子：
3
作者：
Hsieh, CE;Leith, A;Marko, M
通讯作者：
Marko, M
影响因子：
11.4
作者：
Strauss, Mike;Hofhaus, Goetz;Kuehlbrandt, Werner
通讯作者：
Kuehlbrandt, Werner
影响因子：
3
作者：
Gruska, Manuela;Medalia, Ohad;Leis, Andrew
通讯作者：
Leis, Andrew
影响因子：
3
作者：
Kremer, JR;Mastronarde, DN;McIntosh, JR
通讯作者：
McIntosh, JR