K. Miyake: "Si(111) Surface under Phase Transitions Studied by the Analysis of Inner Layer Structures using Bias-dependent Scanning Tunneling Microscopy"Japanese Journal of Applied Physics. 38-6B. 3841-3844 (1999)
K. Miyake: "Si(111) Surface under Phase Transitions Studied by the Analysis of Inner Layer Structures using Bias-dependent Scanning Tunneling Microscopy"Japanese Journal of Applied Physics. 38-6B. 3841-3844 (1999)
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K. Miyake：“使用偏压相关扫描隧道显微镜分析内层结构来研究相变下的 Si(111) 表面”日本应用物理学杂志。
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