M.Tanaka,M.Terauchi and T.Kaneyama: "Identification of latice defects by convergent-beam electron diffraction" J.Electron Microscopy. 40. 211-220 (1991)
M.Tanaka,M.Terauchi and T.Kaneyama: "Identification of latice defects by convergent-beam electron diffraction" J.Electron Microscopy. 40. 211-220 (1991)
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M.Tanaka、M.Terauchi 和 T.Kaneyama：“通过会聚束电子衍射识别晶格缺陷”J.Electron Microscopy。
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