A bottom-up multiscale view of point-defect aggregation in silicon
A bottom-up multiscale view of point-defect aggregation in silicon
复制标题
硅中点缺陷聚集的自下而上的多尺度视图
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Sinno
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Sinno
