H.Ueno, T.Kitamura, S.Matsumoto, T.Okagaki, M.Miura-Mattausch, H.Abe, T.Hamasaki: "Evidence for an additional noise source modifying conventional 1/f frequency dependence in sub-μm metal-oxide-semiconductor field-effect transistors"Applied Physics Letters
H.Ueno, T.Kitamura, S.Matsumoto, T.Okagaki, M.Miura-Mattausch, H.Abe, T.Hamasaki: "Evidence for an additional noise source modifying conventional 1/f frequency dependence in sub-μm metal-oxide-semiconductor field-effect transistors"Applied Physics Letters
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H.Ueno、T.Kitamura、S.Matsumoto、T.Okagaki、M.Miura-Mattausch、H.Abe、T.Hamasaki：“额外噪声源改变亚微米金属中传统 1/f 频率依赖性的证据氧化物半导体场效应晶体管”应用物理快报
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