T.Asakawa., K.Iwasawa., and S.Kajihara.: "BIST oriented test pattern generator for detection of transition faults"IEICE Trans. Information and Communication Eng... J84-D-I, No.2. 165-172 (2001)
T.Asakawa., K.Iwasawa., and S.Kajihara.: "BIST oriented test pattern generator for detection of transition faults"IEICE Trans. Information and Communication Eng... J84-D-I, No.2. 165-172 (2001)
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T.Asakawa.、K.Iwasawa. 和 S.Kajihara.：“用于检测转换故障的 BIST 导向测试模式生成器”IEICE Trans。
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