Si Surface Orientation Dependence of SiC Nano-Dot Formation in Hot-C+-Ion Implanted Bulk-Si Substrate

Si Surface Orientation Dependence of SiC Nano-Dot Formation in Hot-C+-Ion Implanted Bulk-Si Substrate
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热碳离子注入体硅衬底中 SiC 纳米点形成的 Si 表面取向依赖性

DOI:
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发表时间:
2019
期刊:
Abst. IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop
影响因子:
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通讯作者:
T. Sameshima
T. Sameshima
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
T. Mizuno;M. Yamamoto;T. Aoki;T. Sameshima

文献摘要

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