Local distortion induced metal-to-insulator phase transition in PrRu4P12.
Local distortion induced metal-to-insulator phase transition in PrRu4P12.
复制标题
PrRu4P12 中的局部变形引起金属到绝缘体的相变。
DOI：
10.1103/physrevlett.94.036403
复制
发表时间：
2004
影响因子：
8.6
通讯作者：
M. Maple
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
D. Cao;R. Heffner;F. Bridges;I. Jeong;E. Bauer;W. Yuhasz;M. Maple
对PrRu(4)P(12)和PrOs(4)P(12)进行了扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)实验，以研究PrRu(4)P(12)中的金属到绝缘体(MI)相变。根据 EXAFS 数据，在 MI 转变温度范围内没有观察到 Pr 位移。相反，我们的 EXAFS 数据清楚地表明 Ru 位移与这种 MI 转变相关。 Ru-P 键的非常高的德拜温度 (Theta(D) = 690 K) 表明相对刚性的 RuP(6) 八面体的轻微旋转/位移会导致这种小的 Ru 位移，这伴随着 PrRu(4)P(12) 中 62 K 的 MI 转变。
Extended x-ray absorption fine structure (EXAFS) experiments have been carried out on PrRu(4)P(12) and PrOs(4)P(12) to study the metal-to-insulator (MI) phase transition in PrRu(4)P(12). No Pr displacement was observed across the MI transition temperature from the EXAFS data. Instead, our EXAFS data clearly show that a Ru displacement is associated with this MI transition. The very high Debye temperature for the Ru-P bond (Theta(D) = 690 K) suggests that a slight rotation/displacement of relatively rigid RuP(6) octahedra leads to this small Ru displacement, which accompanies the MI transition at 62 K in PrRu(4)P(12).