荷電粒子ビームを用いた電流経路機構に関する研究

荷電粒子ビームを用いた電流経路機構に関する研究
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带电粒子束电流路径机理研究

DOI:
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发表时间:
2016
期刊:
第36回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2016)会議録
影响因子:
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通讯作者:
内海元貴, 馬晶鴻,藤村陽平,國重友里,益子洋治
内海元貴, 馬晶鴻,藤村陽平,國重友里,益子洋治
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Y. Uzawa;Y. Fujii;A. Gonzalez;K. Kaneko;M. Kroug;T. Kojima;A. Miyachi;K. Makise;H. Terai;Z. Wang;and S. Asayama;内海元貴, 馬晶鴻,藤村陽平,國重友里,益子洋治

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