冨安,野島,坂本,尾張,二瓶: "ガリウム収束イオンビーム二次イオン質量分析法を用いた材料分析"第3回分析化学東京シンポジウム分析機器展招待ポスター講演要旨集. 194 (1999)
冨安,野島,坂本,尾張,二瓶: "ガリウム収束イオンビーム二次イオン質量分析法を用いた材料分析"第3回分析化学東京シンポジウム分析機器展招待ポスター講演要旨集. 194 (1999)
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Tomiyasu、Nojima、Sakamoto、Owari、Nihei：“使用镓聚焦离子束二次离子质谱法进行材料分析”第三届东京分析化学和分析仪器研讨会邀请海报演讲摘要 194（1999 年）。
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