Measurement of local current flow around a transverse defect in YBCO films by use of scanning SQUID microscope
Measurement of local current flow around a transverse defect in YBCO films by use of scanning SQUID microscope
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使用扫描 SQUID 显微镜测量 YBCO 薄膜横向缺陷周围的局部电流
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Koyanagi et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Hayashibe;N.Suzuki;N.Nakata;A.Hattori;K.Konishi;M.Hashizume;奥井登志子;井上昌睦 他;K.Koyanagi et al.
