Prediction of microstructural evolution during sintering process using meso-scale simulation and FIB/SEM tomography
Prediction of microstructural evolution during sintering process using meso-scale simulation and FIB/SEM tomography
复制标题
使用细观模拟和 FIB/SEM 断层扫描预测烧结过程中的微观结构演变
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Ohi and N. Shikazono
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Hara;A. Ohi and N. Shikazono
