T. Tsuchiya, T. Yosida, and Y. Sato: "Impact of Hot Carrier Stress on Low-Frequency Noise Characteristics in Floating-Body SOI MOSFETs"International Conf. on Solid State Devices and Materials, Extended Abstract. 272-273 (2001)
T. Tsuchiya, T. Yosida, and Y. Sato: "Impact of Hot Carrier Stress on Low-Frequency Noise Characteristics in Floating-Body SOI MOSFETs"International Conf. on Solid State Devices and Materials, Extended Abstract. 272-273 (2001)
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T. Tsuchiya、T. Yosida 和 Y. Sato：“热载流子应力对浮体 SOI MOSFET 低频噪声特性的影响”国际会议。
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