Quantitative Thickness Measurement in Layered Polarity-Inverted Piezoelectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
Quantitative Thickness Measurement in Layered Polarity-Inverted Piezoelectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
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使用扫描非线性介电显微镜定量测量层状极性反转压电薄膜的厚度
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Yasuo Cho
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Koshiro Terada;Hiroaki Nishikawa;Yohei Tanaka1;Hiroyuki Odagawa1;Takahiko Yanagitani;and Yasuo Cho
