Fixed pattern noise in localization microscopy.
Fixed pattern noise in localization microscopy.
复制标题
定位显微镜中的固定图案噪声。
DOI：
10.1002/cphc.201300756
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Fox-Roberts P
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Fox-Roberts P
定位显微镜通过拟合单个荧光团的位置，极大地提高了荧光显微镜的分辨率。我们研究了由不同拟合算法产生的重建，用于固定模式噪声系统倾向的实例，根据它们的亚像素位置以一种不反映地面真值结构的方式改变估计的发射器位置。我们表明，虽然在标准经验信号强度下不易看到，但在执行亚像素拟合时可能会出现固定模式噪声，并且其程度根据所使用的算法和与点扩散函数相比像素的相对大小而变化。对于80-170纳米范围内的像素尺寸，这会导致2-4纳米量级的精度变化-对于许多应用来说相对较小，但在寻求非常高精度的情况下不可忽略。
Localization microscopy vastly improves the resolution achieved by fluorescence microscopy by fitting the positions of individual fluorophores. We examine the reconstructions produced by different fitting algorithms for instances of fixed pattern noise—systematic tendencies to alter estimated emitter positions according to their subpixel location in a way that does not reflect the ground truth structure. We show that while not readily visible at standard empirical signal strengths, fixed pattern noise can occur when performing sub‐pixel fitting, and that its degree varies according to the algorithm used and the relative size of the pixels compared to the point spread function. For pixel sizes in the range 80–170 nm, this results in variations in accuracy of the order of 2–4 nm—comparatively small for many applications, but non‐negligible in scenarios where very high accuracy is sought.
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影响因子：
3.4
作者：
Thompson, RE;Larson, DR;Webb, WW
通讯作者：
Webb, WW
高分辨率 CCD 读出光子计数探测器中的固定图案噪声
DOI：
--
发表时间：
1997
期刊：
影响因子：
--
作者：
R. Michel;J. Fordham;H. Kawakami
通讯作者：
H. Kawakami
幸运成像：提高了单分子成像的定位精度。
影响因子：
3.4
作者：
Cronin B
通讯作者：
Cronin B
影响因子：
3.4
作者：
Ober, RJ;Ram, S;Ward, ES
通讯作者：
Ward, ES
光子事件计数成像中固定模式噪声的最小化
DOI：
--
发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
--
作者：
K. Suhling;W. AireyRobert;B. L. Morgan
通讯作者：
B. L. Morgan