F.Iwata, K.Mikage, H.Sakaguchi, N.Kitao, A.Sasaki: "Current-sensing scanning near-field optical Microscopy using a metal probe for nanometer-scale observation of electrochromic film"J.Microscopy. (発表予定). (2003)
F.Iwata, K.Mikage, H.Sakaguchi, N.Kitao, A.Sasaki: "Current-sensing scanning near-field optical Microscopy using a metal probe for nanometer-scale observation of electrochromic film"J.Microscopy. (発表予定). (2003)
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F.Iwata、K.Mikage、H.Sakaguchi、N.Kitao、A.Sasaki：“使用金属探针进行电致变色薄膜纳米级观察的电流传感扫描近场光学显微镜”（J.Microscopy）。 2003）
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