纳米PMOSFET负偏压温度不稳定性测试方法
纳米PMOSFET负偏压温度不稳定性测试方法
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DOI：
10.19623/j.cnki.rpsse.2017.06.013
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
余学峰
中科院分区：
文献类型：
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作者：
崔江维;郑齐文;余徳昭;周航;苏丹丹;马腾;郭旗;余学峰
