逐次相転移を示すCrSe2の走査トンネル分光法による電子状態の測定
逐次相転移を示すCrSe2の走査トンネル分光法による電子状態の測定
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通过扫描隧道光谱测量 CrSe2 的电子态,显示连续相变
DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
坂田英明
中科院分区:
文献类型:
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作者:
藤澤唯太;島袋竜成;出村郷志;小林慎太郎;植田浩明;道岡千城;吉村一良;坂田英明