MOVPE法による大面積CdTex線・γ線画像検出器に関する研究(VII)、Si基板上の厚膜CdTe層高品質化の検討
MOVPE法による大面積CdTex線・γ線画像検出器に関する研究(VII)、Si基板上の厚膜CdTe層高品質化の検討
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MOVPE法大面积CdTex射线/伽马射线图像探测器研究（七）、Si衬底上高质量厚CdTe层的研究
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小川博久;他
