光学的全視野ひずみ計測法と応力解放法によるPC構造物の現有作用応力測定
光学的全視野ひずみ計測法と応力解放法によるPC構造物の現有作用応力測定
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采用光学全场应变测量法和应力释放法测量PC结构上的现有作用应力
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
肥田研一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tanaka;Y.;H.Ogawa;T.Miyajima;肥田研一
