Twin nucleation from disconnection-dense sites between stacking fault pairs in a random defect network
Twin nucleation from disconnection-dense sites between stacking fault pairs in a random defect network
复制标题
DOI：
10.1016/j.mtla.2023.101835
复制
发表时间：
2023-08
期刊：
影响因子：
3.4
通讯作者：
Kehang Yu;Xin Wang;S. Mahajan;I. Beyerlein;P. Cao;T. Rupert;J. Schoenung;E. Lavernia
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Kehang Yu;Xin Wang;S. Mahajan;I. Beyerlein;P. Cao;T. Rupert;J. Schoenung;E. Lavernia
