単一InAs量子リングにおける正孔面内g因子異方性の測定
単一InAs量子リングにおける正孔面内g因子異方性の測定
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单个 InAs 量子环中空穴面内 g 因子各向异性的测量
DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
鄭舜仁,足立智,
中科院分区:
文献类型:
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作者:
冨永隆宏,鍜治怜奈,呉祐年;鄭舜仁,足立智,