Iwama,K.,Hino,K.: "Random generation of test instances for logic optimizers" Proc.31st ACM/IEEE Design Automation Conference. (1994)
Iwama,K.,Hino,K.: "Random generation of test instances for logic optimizers" Proc.31st ACM/IEEE Design Automation Conference. (1994)
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Iwama,K.,Hino,K.：“逻辑优化器的测试实例的随机生成”Proc.31st ACM/IEEE 设计自动化会议。
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