バンド励起電気化学歪み顕微鏡法とI-VマッピングによるNiO中抵抗スイッチング機構の解明
バンド励起電気化学歪み顕微鏡法とI-VマッピングによるNiO中抵抗スイッチング機構の解明
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通过带激发电化学应变显微镜和 I-V 映射阐明 NiO 中的电阻切换机制
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
幾原雄一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
杉山一生;柴田直哉;山本剛久;幾原雄一
