Quantitative Phase Imaging of Moving Samples by a High-Speed Phase Shifting Point-Diffraction Interference Microscope with a Wire Grid Polarization Pinhole
Quantitative Phase Imaging of Moving Samples by a High-Speed Phase Shifting Point-Diffraction Interference Microscope with a Wire Grid Polarization Pinhole
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通过具有线栅偏振针孔的高速相移点衍射干涉显微镜对移动样品进行定量相位成像
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Harada and H. Kikuta
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Mizutani;K. Fujiki;K. Harada and H. Kikuta
