Nobuyuki Sano et al.: "Probability Distribution of Threshold Voltage Fluctuation in Metal-Oxide-Semiconductor-Field-Effect-Transistors"Jpn.J.Appl.Phys. Vol.41. L552-L554 (2002)
Nobuyuki Sano et al.: "Probability Distribution of Threshold Voltage Fluctuation in Metal-Oxide-Semiconductor-Field-Effect-Transistors"Jpn.J.Appl.Phys. Vol.41. L552-L554 (2002)
复制标题
Nobuyuki Sano 等人：“金属氧化物半导体场效应晶体管中阈值电压波动的概率分布”Jpn.J.Appl.Phys。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
