Characterization of Topological insulator

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拓扑绝缘体的表征

DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
J. Phy. Soc. Jpn. (Lett.) 74
影响因子：
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通讯作者：
Y.Hatsugai
Y.Hatsugai
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
H.Taniguchi;Y.Morita;Y.Hatsugai;Y.Hatsugai

文献摘要

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