Md.Altaf-Ul-Amin, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara: "Design for Hierarchical Two-Pattern Testability of Data Paths"Proceedings of IEEE the 10th Asian test symposium. 11-16 (2001)
Md.Altaf-Ul-Amin, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara: "Design for Hierarchical Two-Pattern Testability of Data Paths"Proceedings of IEEE the 10th Asian test symposium. 11-16 (2001)
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Md.Altaf-Ul-Amin、Satoshi Ohtake、Hideo Fujiwara：“数据路径的分层双模式可测试性设计”IEEE 第 10 届亚洲测试研讨会论文集。
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