反射高速陽電子回折（RHEPD）によるAg(111)表面上のシリセンの構造決定
反射高速陽電子回折（RHEPD）によるAg(111)表面上のシリセンの構造決定
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反射高速正电子衍射（RHEPD）测定Ag（111）表面硅烯的结构
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
深谷有喜，望月出海，前川雅樹，和田健，兵頭俊夫，松田巌，河裾厚男
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Maekawa;K. Wada;Y. Fukaya;A. Kawasuso;I. Mochizuki;T. Shidara;and T. Hyodo;猪瀬裕太，金城一哉，江馬一弘，吉田純，山野晃司，岸野克巳;深谷有喜，望月出海，前川雅樹，和田健，兵頭俊夫，松田巌，河裾厚男
