MINiature Interactive Offset Networks (MINIONs) for Wafer Map Classification

MINiature Interactive Offset Networks (MINIONs) for Wafer Map Classification
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用于晶圆图分类的 MINIature 交互式偏移网络 (MINION)

DOI:
10.1109/itc50571.2021.00027
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发表时间:
2021
期刊:
2021 IEEE International Test Conference (ITC
影响因子:
--
通讯作者:
Shan, Chuanhe Jay
Shan, Chuanhe Jay
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Zeng, Yueling Jenny;Wang, Li-C.;Shan, Chuanhe Jay

文献摘要

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