M.Tanaka and K.Tsuda: "A new Ω-filter electron microscope and structure refinement by convergent-beam electron diffraction" Electron Microscopy 1998 Vol.III. 741-742 (1998)
M.Tanaka and K.Tsuda: "A new Ω-filter electron microscope and structure refinement by convergent-beam electron diffraction" Electron Microscopy 1998 Vol.III. 741-742 (1998)
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M.Tanaka 和 K.Tsuda：“新型 Ω 滤波器电子显微镜和会聚束电子衍射的结构细化”《电子显微镜》1998 年第 III 卷 741-742 (1998)
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