X射线晶体结构解析技术在高分子表征研究中的应用
X射线晶体结构解析技术在高分子表征研究中的应用
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DOI：
10.11777/j.issn1000-3304.2020.20258
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
吴婧华
中科院分区：
文献类型：
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作者：
扈健;王梦梵;吴婧华
高分子材料其结构具有多尺度的复杂性，解析高分子材料各级微观结构并建立结构与性能之间的关系仍然是高分子研究领域的重要目标和挑战。对结晶性高分子而言，第一步工作就是对其晶体结构进行表征和解析，X射线衍射法是高分子晶体结构解析中最经典也是最常用的方法。本文主要介绍X射线衍射等技术在高分子晶体解析中的基本原理和测试表征方法，总结概述近些年来晶体结构解析在高分子领域内的主要进展以及应用。通过晶体结构解析的方法建立可靠的高分子晶体结构，不仅可以应用于新合成结晶高分子结构的解析，也可以进一步研究高分子各级结构在外场作用下的演变，探明微观结构与宏观性能之间的关系。