K.Miura: "Hierarchical Fault Tracing for VLSIs with Bi-Directional Busses from CAD Layout Data in the CAD-Linked EB Test System" IEICE Trans.Electron.
K.Miura: "Hierarchical Fault Tracing for VLSIs with Bi-Directional Busses from CAD Layout Data in the CAD-Linked EB Test System" IEICE Trans.Electron.
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K.Miura：“通过 CAD 链接的 EB 测试系统中的 CAD 布局数据对具有双向总线的 VLSI 进行分层故障跟踪”IEICE Trans.Electron。
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