T.Hattori: "Structural Studies of Ultrathin Silicon Oxides and Their Interfaces by XPS" Applications of Surface Science. 41/42. 416-419 (1989)
T.Hattori: "Structural Studies of Ultrathin Silicon Oxides and Their Interfaces by XPS" Applications of Surface Science. 41/42. 416-419 (1989)
复制标题
T.Hattori：“通过 XPS 对超薄二氧化硅及其界面进行结构研究”表面科学的应用。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
