Yamamoto, W., Suzuki, K: "An Analysis of Defect Patterns on Semiconductor Wafers"International Symposium on Business and Industrial Statistics. 179-186 (2001)
Yamamoto, W., Suzuki, K: "An Analysis of Defect Patterns on Semiconductor Wafers"International Symposium on Business and Industrial Statistics. 179-186 (2001)
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Yamamoto, W.，Suzuki, K：“半导体晶圆缺陷模式分析”商业和工业统计国际研讨会。
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