Current-driven vortex dynamics at zero field in thick and thin films probed by voltage noise
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通过电压噪声探测厚膜和薄膜中零场电流驱动的涡流动力学
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Kamada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Okuma;M.Kamada
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