Fukuda and M. Ohtsu: "Near-Field Photocurrent Measurements of Si p-n Junctin Under the Reverse-bias Condition"Jpn. J. Appl. Phys.. 40-3B. L286-L288 (2000)
Fukuda and M. Ohtsu: "Near-Field Photocurrent Measurements of Si p-n Junctin Under the Reverse-bias Condition"Jpn. J. Appl. Phys.. 40-3B. L286-L288 (2000)
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Fukuda 和 M. Ohtsu：“反向偏置条件下 Si p-n Junctin 的近场光电流测量”Jpn。
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