蛍光X線ホログラフィーによる太陽電池材料SnドープSiGe薄膜の局所構造観測
蛍光X線ホログラフィーによる太陽電池材料SnドープSiGe薄膜の局所構造観測
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利用荧光X射线全息技术观察太阳能电池材料Sn掺杂SiGe薄膜的局域结构
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
大山研司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
星翔太;菅野友哉;高野元輝;荒瀬将太朗;石崎嵩人;野田新太;木村耕治;八方直久;中原正博;ダムリン マルワン;宇佐美徳隆;林好一;大山研司
