USE OF A SCHOTTKY-BARRIER TO MEASURE IMPACT IONIZATION COEFFICIENTS IN SEMICONDUCTORS
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DOI：
10.1016/0038-1101(73)90013-0
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发表时间：
1973-01-01
影响因子：
1.7
通讯作者：
LAMPERT, MA
中科院分区：
文献类型：
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作者：
WOODS, MH;JOHNSON, WC;LAMPERT, MA
