温,暁青: "Testing of K-FR Circuits under Highly Observable Condition" IEICE Trans on Information and Systems. E78-D. 830一838 (1995)
温,暁青: "Testing of K-FR Circuits under Highly Observable Condition" IEICE Trans on Information and Systems. E78-D. 830一838 (1995)
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温晓庆：“高可观测条件下的 K-FR 电路测试”，IEICE Trans on Information and Systems，830-838（1995）。
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