H. Niwa, Y. Ohno, S. Kishimoto, K. Maezawa, T. Mizutani, H. Yamazaki and T. Taniguchi: "Measurements of Electroluminescence Intensity Distribution in the Direction of Gate Width of nィイD1+ィエD1 Self-Aligned Gate GaAs Metal-Semiconductor Field-Effect Transis
H. Niwa, Y. Ohno, S. Kishimoto, K. Maezawa, T. Mizutani, H. Yamazaki and T. Taniguchi: "Measurements of Electroluminescence Intensity Distribution in the Direction of Gate Width of nィイD1+ィエD1 Self-Aligned Gate GaAs Metal-Semiconductor Field-Effect Transis
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H. Niwa、Y. Ohno、S. Kishimoto、K. Maezawa、T. Mizutani、H. Yamazaki 和 T. Taniguchi：“D1+D1 自对准栅极 GaAs 金属栅极宽度方向电致发光强度分布的测量” -半导体场效应晶体管
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