CIC導体の素線変位計測による素線間接触状況の検討
CIC導体の素線変位計測による素線間接触状況の検討
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通过测量CIC导体的导线位移来检查导线之间的接触情况
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
谷貝剛
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Makoto Tsuda;谷貝剛;谷貝剛;Makoto Tsuda;T.Yagai;T.Yagai;M.Tsuda;谷貝剛;高畑一也;津田理;谷貝剛
