界面顕微光応答法を用いたAlGaN/GaN HEMTの劣化過程の２次元評価
界面顕微光応答法を用いたAlGaN/GaN HEMTの劣化過程の２次元評価
复制标题
利用界面微光响应方法二维评估AlGaN/GaN HEMT的降解过程
DOI：
--
复制
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
塩島 謙次
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
山本 晋吾;畠山 信也;末光 哲也;塩島 謙次
