四重極電極組込マイクロポアを用いた非修飾粒子の検出
四重極電極組込マイクロポアを用いた非修飾粒子の検出
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使用带有集成四极电极的微孔检测未修饰的颗粒
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
谷口 正輝
中科院分区：
文献类型：
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作者：
林田 朋樹;筒井 真楠;谷口 正輝
