Toshiharu Saiki: "Determination of slant angle of p-n interface by multiwavelength near-field photocurrent measurement" Applied Physics Letters. 69,5. 644-646 (1996)
Toshiharu Saiki: "Determination of slant angle of p-n interface by multiwavelength near-field photocurrent measurement" Applied Physics Letters. 69,5. 644-646 (1996)
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Toshiharu Saiki：“通过多波长近场光电流测量确定 p-n 界面的倾斜角”《应用物理快报》。
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