Point Defect-Induced Variation of Electronic Properties and Reliability of Oxides for High Performance Devices
Point Defect-Induced Variation of Electronic Properties and Reliability of Oxides for High Performance Devices
复制标题
点缺陷引起的电子特性变化和高性能器件氧化物的可靠性
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hideo MIURA
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Goundar Jowesh Avisheik;Xiangyu Qiao;Suzuki Ken;Miura Hideo;Qinqiang Zhang; Ken Suzuki; Hideo Miura;Meng Yin;Hideo MIURA
