シリコンMOS界面のチャージポンピングEDMRにおける信号強度の温度依存性
シリコンMOS界面のチャージポンピングEDMRにおける信号強度の温度依存性
复制标题
硅 MOS 接口电荷泵 EDMR 信号强度的温度依赖性
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小野行徳
中科院分区：
文献类型：
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作者：
堀匡寛;土屋敏章;小野行徳
