低速電子誘起成膜法によるSiNxの極低温合成と物性評価
低速電子誘起成膜法によるSiNxの極低温合成と物性評価
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慢速电子诱导沉积法SiNx的深冷合成及物性评价
DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
小林 憲明
中科院分区:
文献类型:
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作者:
T.Sato;M.Mitsui;J.Yamanaka;K.Nakagawa;Y.Aoki;S.Sato;C.Miyata;小林 憲明;佐藤 哲也;小林 憲明